Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

  • Staat:
  • Stadt: München
  • ID Ausschreibung: 20250010000272733
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  • Verhandlungsverfahren
  • Öffentliche Aufträge
  • Wirtschaftlichstes Angebot
Grundinformationen über Ausschreibung
  • Veröffentlicht: 28.04.2025.
  • Läuft ab: 05.05.2025.
  • Dokumentation zu: -
  • Preis dokumentation: -
  • Wert: -
  • Kategorien (CPV code):
                    38511100 - Rasterelektronenmikroskope
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Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Los 1: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2); Los 2: high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1); Los 3: high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)



Scanning electron microscopes – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Los 1: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2); Los 2: high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1); Los 3: high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)