Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P

  • Staat:
  • Stadt: München
  • ID Ausschreibung: 20250010000272420
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  • Öffentliche Aufträge
  • Wirtschaftlichstes Angebot
Grundinformationen über Ausschreibung
  • Veröffentlicht: 28.04.2025.
  • Läuft ab: 05.05.2025.
  • Dokumentation zu: -
  • Preis dokumentation: -
  • Wert: -
  • Kategorien (CPV code):
                    38511100 - Rasterelektronenmikroskope
                    38512100 - Ionenmikroskope
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Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P

Los 1: 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1); Los 2: SEM Scanning Electron Microscope (IMWS-3.1)



Scanning electron microscopes – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P

Los 1: 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1); Los 2: SEM Scanning Electron Microscope (IMWS-3.1)